Detalles del producto

Espectrómetro ICP-OES de alta resolución, alta sensibilidad y alta estabilidad
Ultima Expert ofrece el rendimiento más alto del mercado y está especialmente diseñado para manejar las aplicaciones más desafiantes.
Su diseño óptico de alta calidad que integra una rejilla holográfica de alta densidad y una distancia focal de un metro asociada con la característica exclusiva Vista de plasma total ofrece la resolución más alta del mercado junto con una alta sensibilidad y estabilidad para las aplicaciones más exigentes.
Visualización radial y vista de plasma total que proporcionan los límites de detección más bajos en espectrometría ICP-OES
Característica única de gas envolvente para una estabilidad inigualable en muestras con alto contenido de sólidos disueltos totales, hasta 30% de sólidos disueltos
Cobertura continua de longitud de onda de 120 a 800 nm con la opción Far UV para una mejor sensibilidad para el análisis de halógenos o longitudes de onda alternativas
Resolución espectral inigualable que minimiza las interferencias con <5 pm para longitudes de onda en el rango de 120-320 nm Sistema opcional de doble rejilla, que ofrece una resolución de <6pm hasta 450 nm para matrices ricas en líneas, como elementos de tierras raras, aplicaciones geológicas o de metales preciosos Dispositivo HiStab único para lograr una estabilidad excepcional para aplicaciones exigentes. Detección HDD® patentada que proporciona sub-ppb al nivel porcentual en un solo análisis Rango dinámico de hasta 10 órdenes de magnitud usando Imagen Policromador opcional de 0.5m o 1m para análisis simultáneo Navegador de imágenes Image Navigator está diseñado para análisis semicuantitativos gracias a la adquisición de espectro completo. Pantalla de espectro completo con capacidad de visualización de múltiples espectros Comparación visual con la capacidad de visualización de espectros superpuestos Análisis cualitativo y semicuantitativo automatizado. MAESTRO, encuentre fácilmente las longitudes de onda correctas MASTER facilita el desarrollo del método mediante la selección automática de líneas apropiadas de acuerdo con el rango de concentración de cada elemento y la matriz. MASTER se basa en la base patentada S 3 desarrollada con adquisiciones de espectros ICP reales y que contiene más de 50,000 longitudes de onda identificadas con datos espectroscópicos completos. Selección automática de longitud de onda Visualización de espectros sintéticos Sensibilidad, rango dinámico y criterios de nivel de interferencia para ajustar la selección de línea S visor de 3 bases El visor de base S 3 muestra toda la base de datos de base S 3 para ayudar con la identificación de líneas de emisión en muestras desconocidas. Base de datos completa de base S 3 disponible Visualización de la longitud de onda del analito y su intensidad relativa y límite de detección. Visualización de la lista de posibles líneas de emisión, incluidas las líneas inherentes al plasma, en la vecindad de una longitud de onda seleccionada con sus intensidades relativas y límites de detección Visualización gráfica de la línea de emisión de analito y las posibles líneas de emisión para facilitar la identificación.