Detalles del producto

Plataforma de análisis de muestras múltiples

Las mediciones a escala macro, micro y nano se pueden realizar en la misma plataforma.

Facilidad de uso

¡Operación totalmente automatizada, comience a medir en minutos, no en horas!

Verdadera confocalidad

Alta resolución espacial, etapas de mapeo automatizadas, opciones de visualización de microscopio completo.

Alta eficiencia de recolección

Detección Raman de arriba hacia abajo y oblicua para una resolución y rendimiento óptimos en ambos

mediciones co-localizadas y con punta mejorada (Raman y fotoluminiscencia).

Alta resolución espectral

Máximo rendimiento de resolución espectral, múltiples rejillas con conmutación automática, análisis de amplio rango espectral para Raman y PL.

Alta resolución espacial

Resolución espectroscópica a nanoescala (hasta 10 nm) a través de punta mejorada

Espectroscopias ópticas (Raman y fotoluminiscencia).

Multi-técnica / Multi-ambiente

Numerosos modos SPM que incluyen AFM, modos conductivos y eléctricos (cAFM,

KPFM), STM, celda líquida y entorno electroquímico, junto con mapeo químico

a través de TERS / TEPL. El control total de los 2 instrumentos a través de una estación de trabajo y un potente control de software, SPM y espectrómetro se pueden operar simultáneamente o independientemente

Robustez / Estabilidad

Escáneres AFM de alta frecuencia de resonancia, ¡operación lejos de ruidos! Alto

El rendimiento se obtiene sin aislamiento activo de vibraciones.